2014年4月9日，北京――日前，由IEEE MTT-S（IEEE微波理論與技術(shù)分會）和中國電子學(xué)會微波分會聯(lián)合舉辦的第二屆“無線會議”（IEEE IWS2014）在西安綠地筆克會展中心順利落幕。作為zui大的測試測量公司，安捷倫科技（NYSE：A）是本次會議的白金贊助商，攜手合作伙伴準(zhǔn)備了5大展臺，展出了的測試測量解決方案，陜西省副省長李金柱出席了此次展覽，并參觀了安捷倫展臺。展會同期，安捷倫還舉辦了“有源微波器件進(jìn)階測試技術(shù)講座”和“航空航天和國防電子測量技術(shù)講座”，共吸引了近350人與會。

陜西副省長李金柱參觀安捷倫展臺

安捷倫科技本次展出涵蓋了毫米波/T赫茲、雷達(dá)和電子戰(zhàn)、復(fù)雜信號產(chǎn)生與分析、4G無線通信、進(jìn)階微波器件測試、高速數(shù)字電路分析等內(nèi)容，更是在國內(nèi)展示了325GHz高精度頻譜儀和信號源等樣機(jī)和系統(tǒng)方案，為客戶和業(yè)內(nèi)專家展示了安捷倫的射頻微波測試方案。

研討會現(xiàn)場

展覽同期，為了幫助國內(nèi)客戶深入了解微波器件特別是放大器、變頻器等有源器件的測試技術(shù)，安捷倫舉辦了“有源微波器件進(jìn)階測試技術(shù)講座”。安捷倫元件測試集團(tuán)科學(xué)家Joel Dunsmore 結(jié)合現(xiàn)場實(shí)物測試演示，為專業(yè)客戶進(jìn)行了4小時(shí)的有源器件測試技術(shù)剖析，深入講解了測量評估放大器和混頻器等復(fù)雜有源微波源器件的技術(shù)、有效提高校準(zhǔn)精度和測試效率的方法、夾具內(nèi)測試精度優(yōu)化技術(shù)以及大功率測試的優(yōu)化方法等。

演示安捷倫解決方案

而同期舉辦的“航空航天和國防電子測量研討會”則與國內(nèi)用戶一起分享了目前的熱點(diǎn)題目，內(nèi)容涵蓋了國防電子、雷達(dá)和電子戰(zhàn)、微波和通信領(lǐng)域等共計(jì)10多個(gè)前沿課題。翔實(shí)的內(nèi)容，專業(yè)的聽眾，深度的交流，為國內(nèi)專業(yè)人士和*專家之間以及國內(nèi)專業(yè)人士之間搭建了良好的學(xué)術(shù)和產(chǎn)業(yè)交流機(jī)會。

對于未能及時(shí)參加此次盛會的觀眾，也可登陸安捷倫網(wǎng)上測試測量大會的在線平臺，安捷倫精挑細(xì)選了眾多熱門應(yīng)用講座及相關(guān)產(chǎn)品應(yīng)用視頻，讓用戶可以隨時(shí)隨處了解安捷倫更多產(chǎn)品及解決方案。